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納米級(jí)材料尺寸如何測量?

更新時(shí)間:2024-07-09      點(diǎn)擊次數(shù):811

在納米顯微測量領(lǐng)域,中圖儀器基于納米傳動(dòng)與掃描技術(shù)、白光干涉與高精度3D重建技術(shù)、共聚焦測量等技術(shù)積累,推出了具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的白光干涉儀(Z向分辨率可高達(dá)0.1納米)和共聚焦顯微鏡,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、3C電子、高??蒲械刃袠I(yè)領(lǐng)域。

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從納米到宏觀,產(chǎn)品解決方案全面覆蓋,滿足多樣化需求:

1、光學(xué)3D表面輪廓儀

SuperView W系列光學(xué)3D表面輪廓儀利用白光干涉技術(shù),結(jié)合精密Z向掃描模塊和3D建模算法,能夠?qū)Ω鞣N精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測量。

典型應(yīng)用:

1226.jpg


2、共聚焦顯微鏡

VT6000系列共聚焦顯微鏡以共聚焦技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等,對各種精密器件及材料表面進(jìn)行微納米級(jí)測量。

典型應(yīng)用:

太陽能電池應(yīng)用.jpg


3、臺(tái)階儀

CP系列臺(tái)階儀采用了線性可變差動(dòng)電容傳感器LVDC,集成了超低噪聲信號(hào)采集、超精細(xì)運(yùn)動(dòng)控制、標(biāo)定算法等核心技術(shù),具備超微力調(diào)節(jié)的能力和亞埃級(jí)的分辨率。

典型應(yīng)用:

典型應(yīng)用3.jpg


中圖儀器以深厚的技術(shù)積累、創(chuàng)新的產(chǎn)品解決方案和全球化的服務(wù)網(wǎng)絡(luò),為全球客戶提供精準(zhǔn)、可靠的測量產(chǎn)品和服務(wù)。未來公司將不斷推動(dòng)科技創(chuàng)新,繼續(xù)在精密測量領(lǐng)域發(fā)揮領(lǐng)導(dǎo)作用,助力科技進(jìn)步和工業(yè)發(fā)展。

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