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Product CategorySuperViewW1光學(xué)鏡片表面輪廓儀采用了掃描模塊和內(nèi)部抗振設(shè)計(jì),可實(shí)現(xiàn)高0.05%的測(cè)量精度重復(fù)性和0.002nm的粗糙度RMS重復(fù)性,詮釋始終如一的測(cè)量品質(zhì)。
中圖儀器光學(xué)表面輪廓檢測(cè)儀可以測(cè)到12mm,也可以測(cè)到更小的尺寸,XY載物臺(tái)標(biāo)準(zhǔn)行程為140*110mm,局部位移精度可達(dá)亞微米級(jí)別,鏡頭的橫向分辨率數(shù)值可達(dá)0.4um,Z向掃描電機(jī)可掃描10mm范圍,縱向分辨率可達(dá)0.1nm級(jí)別,因此可測(cè)非常微小尺寸的器件。
中圖儀器SuperViewW系列三維光學(xué)表面輪廓儀分辨率可達(dá)0.1nm,測(cè)量單個(gè)精密器件的過(guò)程用時(shí)2分鐘以內(nèi),確保了高款率檢測(cè)??梢詮V泛適用于從光滑到粗糙等各種精密器件表面的測(cè)量。
SuperViewW系列三維輪廓測(cè)量?jī)x分辨率0.1μm,重復(fù)性0.1%,具有測(cè)量精度高、功能全面、操作便捷、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),專用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測(cè)量。
SuperViewW1系列光學(xué)表面輪廓儀采用了掃描模塊和內(nèi)部抗振設(shè)計(jì),可實(shí)現(xiàn)高0.05%的測(cè)量精度重復(fù)性和0.002nm的粗糙度RMS重復(fù)性,詮釋始終如一的測(cè)量品質(zhì)。
光學(xué)輪廓儀是以白光干涉技術(shù)原理,對(duì)各種精密器件表面進(jìn)行納米級(jí)測(cè)量的儀器,通過(guò)測(cè)量干涉條紋的變化來(lái)測(cè)量表面三維形貌,專用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測(cè)量。
以白光干涉掃描技術(shù)為基礎(chǔ)的3d輪廓儀是用于樣品表面微觀形貌檢測(cè)的精密儀器??梢赃_(dá)到納米級(jí)的檢測(cè)精度,并快速獲得被測(cè)工件表面三維形貌和數(shù)據(jù)。
中圖儀器研發(fā)生產(chǎn)的光學(xué)3d輪廓儀檢測(cè)儀對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行高品質(zhì)監(jiān)控時(shí)不需要取下產(chǎn)品或停止生產(chǎn),而且采用的是非接觸式光學(xué)測(cè)量,在獲得實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)的同時(shí),不會(huì)對(duì)產(chǎn)品造成任何損傷,從而有效節(jié)約了生產(chǎn)成本,提高了生產(chǎn)效率,并且在線檢測(cè),沒(méi)有滯后性,從而減少不合格品,對(duì)表面缺陷檢測(cè)亦如此。
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