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  • NS200臺(tái)階儀國(guó)產(chǎn)品牌
    NS200臺(tái)階儀國(guó)產(chǎn)品牌

    中圖儀器NS200臺(tái)階儀國(guó)產(chǎn)品牌是一款超精密接觸式微觀輪廓測(cè)量?jī)x,可以對(duì)微米和納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測(cè)量。廣泛應(yīng)用于:大學(xué)、研究實(shí)驗(yàn)室和研究所、半導(dǎo)體和化合物半導(dǎo)體、高亮度LED、太陽(yáng)能、MEMS微機(jī)電、觸摸屏、汽車(chē)、醫(yī)療設(shè)備等行業(yè)領(lǐng)域。

    時(shí)間:2024-07-18型號(hào):訪(fǎng)問(wèn)量:759
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  • NS200表面臺(tái)階輪廓儀
    NS200表面臺(tái)階輪廓儀

    中圖儀器NS系列表面臺(tái)階輪廓儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測(cè)量?jī)x器,其主要用于臺(tái)階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測(cè)量。

    時(shí)間:2024-07-18型號(hào):NS200訪(fǎng)問(wèn)量:679
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  • SuperView W13D形貌白光干涉儀
    SuperView W13D形貌白光干涉儀

    SuperViewW系列3D形貌白光干涉儀基于白光干涉原理,結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等以3D非接觸方式,測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。

    時(shí)間:2024-05-13型號(hào):SuperView W1訪(fǎng)問(wèn)量:769
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  • NS200臺(tái)階輪廓儀
    NS200臺(tái)階輪廓儀

    NS200臺(tái)階輪廓儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測(cè)量?jī)x器,其主要用于臺(tái)階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測(cè)量。儀器采用了線(xiàn)性可變差動(dòng)電容傳感器LVDC,具備超微力調(diào)節(jié)的能力和亞埃級(jí)的分辨率,同時(shí),其集成了超低噪聲信號(hào)采集、超精細(xì)運(yùn)動(dòng)控制、標(biāo)定算法等核心技術(shù),使得儀器具備超高的測(cè)量精度和測(cè)量重復(fù)性。

    時(shí)間:2024-07-18型號(hào):NS200訪(fǎng)問(wèn)量:723
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  • VT6100共焦顯微鏡測(cè)量?jī)x
    VT6100共焦顯微鏡測(cè)量?jī)x

    中圖儀器VT6000系列共焦顯微鏡測(cè)量?jī)x以共聚焦技術(shù)為原理,具有納米級(jí)別的縱向分辨能力,能夠?qū)﹄姵匕褰q面這種表面反射率低且形貌復(fù)雜的樣品進(jìn)行三維形貌重建。

    時(shí)間:2024-05-13型號(hào):VT6100訪(fǎng)問(wèn)量:648
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  • SuperViewW1白光干涉光學(xué)測(cè)厚儀
    SuperViewW1白光干涉光學(xué)測(cè)厚儀

    SuperViewW1白光干涉光學(xué)測(cè)厚儀可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測(cè)、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車(chē)零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等。

    時(shí)間:2024-05-13型號(hào):SuperViewW1訪(fǎng)問(wèn)量:734
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  • NS200臺(tái)階厚度儀
    NS200臺(tái)階厚度儀

    NS系列臺(tái)階厚度儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測(cè)量?jī)x器,其主要用于臺(tái)階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測(cè)量。數(shù)據(jù)復(fù)現(xiàn)性高、測(cè)量穩(wěn)定、便捷、高效,是微觀表面測(cè)量中使用非常廣泛的微納樣品測(cè)量手段。

    時(shí)間:2024-07-18型號(hào):NS200訪(fǎng)問(wèn)量:771
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  • NS200臺(tái)階儀表面形貌測(cè)量?jī)x
    NS200臺(tái)階儀表面形貌測(cè)量?jī)x

    中圖儀器NS200臺(tái)階儀表面形貌測(cè)量?jī)x是一款超精密接觸式微觀輪廓測(cè)量?jī)x,其采用LVDC電容傳感器,具有的亞埃級(jí)分辨率和超微測(cè)力。它可以對(duì)微米和納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測(cè)量。

    時(shí)間:2024-07-18型號(hào):NS200訪(fǎng)問(wèn)量:712
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