簡(jiǎn)要描述:SuperViewW1光學(xué)3D白光干涉儀?分辨率0.1μm,重復(fù)性0.1%,可為樣品表面測(cè)量提供快速,便捷的非接觸式3D表面形貌測(cè)量解決方案。應(yīng)用領(lǐng)域廣泛,操作簡(jiǎn)便,可自動(dòng)聚焦測(cè)量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓等一百余項(xiàng)參數(shù)??梢杂糜跍y(cè)試各類表面。比如透明的玻璃表面,加上增透膜,其反射率小于1%;也可以用于測(cè)試直至100%反射率的各類高反表面。
詳細(xì)介紹
品牌 | CHOTEST/中圖儀器 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
中圖儀器SuperViewW1光學(xué)3D白光干涉儀采用光學(xué)非接觸式測(cè)量方法實(shí)現(xiàn)器件表面形貌的3D測(cè)量。具有測(cè)量精度高、使用方便、分析功能強(qiáng)大、測(cè)量參數(shù)齊全等優(yōu)點(diǎn),加上其光源模式,保證了它能夠適用于從光滑到粗糙等各種精密器件的表面質(zhì)量檢測(cè)。
1)設(shè)備提供表征微觀形貌的粗糙度和臺(tái)階高、角度等輪廓尺寸測(cè)量功能;
2)測(cè)量中提供自動(dòng)對(duì)焦、自動(dòng)找條紋、自動(dòng)調(diào)亮度等自動(dòng)化輔助功能;
3)測(cè)量中提供自動(dòng)拼接測(cè)量、定位自動(dòng)多區(qū)域測(cè)量功能;
4)分析中提供校平、圖像修描、去噪和濾波、區(qū)域提取等四大模塊的數(shù)據(jù)處理功能;
5)分析中提供粗糙度分析、幾何輪廓分析、結(jié)構(gòu)分析、頻率分析、功能分析等五大分析功能;
6)分析中同時(shí)提供一鍵分析和多文件分析等輔助分析功能。
1.雙通道氣浮隔振系統(tǒng)大幅減小了環(huán)境振動(dòng)的影響,還可以降低高精度量測(cè)時(shí)的噪聲,提高超光滑表面的測(cè)試精度。
2.一體化操作的測(cè)量分析軟件自動(dòng)對(duì)焦樣品表面,自動(dòng)智能配置測(cè)試參數(shù),使原來麻煩的“找條紋",“選擇測(cè)試參數(shù)"過程,在一分鐘之內(nèi),自動(dòng)完成。
3.雙重防撞保護(hù)功能,除初級(jí)的軟件ZSTOP設(shè)置Z向位移下限位進(jìn)行防撞保護(hù)外,另在Z軸上設(shè)計(jì)有機(jī)械電子傳感器,當(dāng)鏡頭觸碰到樣品表面時(shí),儀器自動(dòng)進(jìn)入緊急停止?fàn)顟B(tài),能保護(hù)樣品和設(shè)備的安全。
(1) 提供多種數(shù)據(jù)處理方式。
提供校平、鏡像、旋轉(zhuǎn)等操作調(diào)整圖像位置;
提供空間濾波、標(biāo)準(zhǔn)濾波、閾值糾正、去除形狀、頻譜變換等濾波操作對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行修正;
提供提取區(qū)域、提取剖面、抽取輪廓等操作獲取檢測(cè)區(qū)域。
(2) 提供多種分析工具。
提供距離、臺(tái)階高度等要素測(cè)量;
提供點(diǎn)、線、圓弧、角度等特征測(cè)量,以及直線度、真圓度等形位公差評(píng)定,為用戶展現(xiàn)強(qiáng)大的輪廓分析功能;
提供基于表面的紋理分析,方便地觀察紋理方向與紋理均質(zhì)性;
提供圖形分析、島嶼分析、分形分析、頂點(diǎn)計(jì)數(shù)、孔的體積等多種有針對(duì)性的分析功能;
提供頻譜分析功能,可獲取幅度和相位信息、平均功率譜密度信息、自相關(guān)性等;
提供全面的線粗糙度、面粗糙度的參數(shù)分析功能;
提供依據(jù)四大國(guó)內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)(ISO/ASME/EUR/GBT)計(jì)算的2D,3D參數(shù)。
(3) 可視化的工作流模式,數(shù)據(jù)處理器和結(jié)果管理器具有可視工作流程樹圖,在每個(gè)節(jié)點(diǎn)既可以是數(shù)據(jù)處理選項(xiàng)也可以是分析結(jié)果。
(4) 多樣化的視圖觀察角度,3D視圖可以清晰地查看被測(cè)物的每一個(gè)特征,并可以在3D視圖、2D投影圖、等高線圖之間任意切換。
(5) 內(nèi)置多種分析方案,可對(duì)特定表面進(jìn)行一鍵分析,自動(dòng)生成一組分析結(jié)果,節(jié)約操作時(shí)間;并可自定義方案,將用戶的分析項(xiàng)目組合起來,避免重復(fù)操作。
(6) 便捷的同步分析功能,可實(shí)時(shí)提取表面二維剖面,同步計(jì)算更新參數(shù)指標(biāo),實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品的操作所見即所得。
(7) 擁有多種報(bào)表形式,用戶可根據(jù)需要導(dǎo)出分析結(jié)果到Word、Pdf等常用辦公軟件中。
薄膜粗糙度測(cè)量
超精密加工
SuperViewW1光學(xué)3D白光干涉儀分辨率0.1μm,重復(fù)性0.1%,可為樣品表面測(cè)量提供快速,便捷的非接觸式3D表面形貌測(cè)量解決方案。應(yīng)用領(lǐng)域廣泛,操作簡(jiǎn)便,可自動(dòng)聚焦測(cè)量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓等一百余項(xiàng)參數(shù)??梢杂糜跍y(cè)試各類表面。比如透明的玻璃表面,加上增透膜,其反射率小于1%;也可以用于測(cè)試直至100%反射率的各類高反表面。
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